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Autor(en)
Titel
Jahr
Standort
e-Book

Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging

Klassifikation
VerlagWiley-Liss
Jahr2001
Seiten368
ISBN0 471 25391 X
Medium Hardcover
Standort 767 B
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Optical Engineering (Boca Raton, FL, United States)
Handbook of Optical Engineering

Klassifikation
ReiheOptical Engineering (Boca Raton, FL, United States)
VerlagMarcel Dekker
Jahr2001
Seiten978
ISBN0 8247 9960 7
Medium Online im Internet
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Topics in Applied Physics
Near-Field Optics and Surface Plasmon Polaritons

Klassifikation
ReiheTopics in Applied Physics
VerlagSpringer-Verlag
Jahr2001
Seiten210
ISBN3 540 41502 5
Medium Online im Internet
e-Book Link

Quantum Optics in Phase Space

Klassifikation
VerlagWiley-VCH
Jahr2001
Seiten695
ISBN3 527 29435 X
Medium Hardcover / Online im Internet
Standort 767 F
Buch ausleihen
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Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy : Theory, Techniques, an Applications

Klassifikation
Auflage2nd ed.
VerlagWiley-VCH
Jahr2001
Seiten493
ISBN0 471 24824 X
Medium Hardcover
Standort 767 D
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Progress in Optics

Klassifikation
ReiheProgress in Optics
VerlagElsevier/North-Holland
Jahr2000
Seiten480
ISBN0 444 50305 6
Medium Online im Internet
Standort Buch ausleihen
e-Book Link

Progress in Optics

Klassifikation
ReiheProgress in Optics
VerlagElsevier/North-Holland
Jahr2000
Seiten612
ISBN0 444 50568 7
Medium Online im Internet
Standort Buch ausleihen
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Optical Engineering (Boca Raton, FL, United States)
Adaptive Optics Engineering Handbook

Klassifikation
ReiheOptical Engineering (Boca Raton, FL, United States)
VerlagMarcel Dekker
Jahr2000
Seiten339
ISBN0 8247 8275 5
Medium Online im Internet
Standort Buch ausleihen
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Advances in Materials Research (Berlin)
Advances in Scanning Probe Microscopy

Klassifikation
ReiheAdvances in Materials Research (Berlin)
VerlagSpringer-Verlag
Jahr2000
Seiten341
ISBN3 540 66718 0
Medium Online im Internet
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Bose-Einstein Condensates and Atom Lasers

Klassifikation
VerlagKluwer Academic / Plenum Publishers
Jahr2000
Seiten325
ISBN0 306 46471 3
Medium Online im Internet
Standort Buch ausleihen
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Optical Engineering (Boca Raton, FL, United States)
Computational Methods for Electromagnetic and Optical Systems

Klassifikation
ReiheOptical Engineering (Boca Raton, FL, United States)
VerlagMarcel Dekker
Jahr2000
Seiten437
ISBN0 8247 7916 9
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Standort Buch ausleihen
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Semiconductors and Semimetals
Electroluminescence I

Klassifikation
ReiheSemiconductors and Semimetals
VerlagAcademic Press
Jahr2000
Seiten331
ISBN0 12 752173 9
Medium Online im Internet
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Semiconductors and Semimetals
Electroluminescence II

Klassifikation
ReiheSemiconductors and Semimetals
VerlagAcademic Press
Jahr2000
Seiten237
ISBN0 12 752174 7
Medium Online im Internet
e-Book Link

Special Publication Royal Society of Chemistry
Further Developments in Scientific Optical Imaging

Klassifikation
ReiheSpecial Publication Royal Society of Chemistry
VerlagRoyal Society of Chemistry
Jahr2000
Seiten207
ISBN0 85404 784 0
Medium Hardcover / Online im Internet
Standort 767 B
Buch ausleihen
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Optical Materials

Klassifikation
VerlagAcademic Press
Jahr2000
Seiten391
ISBN0 12 644140 5
Medium Online im Internet
Standort Buch ausleihen
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SPIE Press Monograph
Optical System Design (Detailed Diagrams Covering Every Major Facet of Optical Design / Design Techniques Taught by Example / Computer-Aided Design Techniques)

Klassifikation
ReiheSPIE Press Monograph
VerlagMcGraw-Hill, Inc.
Jahr2000
Seiten559
ISBN0 07 134916 2
Medium Hardcover
Standort 767 A
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Progress in Optics

Klassifikation
ReiheProgress in Optics
VerlagElsevier/North-Holland
Jahr1999
Seiten510
ISBN0 444 50104 5
Medium Online im Internet
Standort Buch ausleihen
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Microsystems
Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed

Klassifikation
ReiheMicrosystems
VerlagKluwer Academic Publishers
Jahr1999
Seiten173
ISBN0 7923 8466 0
Medium Online im Internet
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Springer Series in Optical Sciences
Electron Holography

Klassifikation
Auflage2nd, enlarged ed.
ReiheSpringer Series in Optical Sciences
VerlagSpringer-Verlag
Jahr1999
Seiten162
ISBN3 540 64555 1
Medium Online im Internet
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NATO Science Series, Series E : Applied Sciences
Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research

Klassifikation
ReiheNATO Science Series, Series E : Applied Sciences
VerlagKluwer Academic Publishers
Jahr1999
Seiten489
ISBN0 7923 5939 9
Medium Online im Internet
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